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  • SuperViewW1白光干涉光學(xué)3D表面形貌輪廓儀
    SuperViewW1白光干涉光學(xué)3D表面形貌輪廓儀

    中圖儀器SuperViewW1白光干涉光學(xué)3D表面形貌輪廓儀利用光學(xué)干涉原理研制開(kāi)發(fā),能以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。測(cè)量中提供自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)找條紋、自動(dòng)調(diào)亮度等自動(dòng)化輔助功能;提供自動(dòng)拼接測(cè)量、定位自動(dòng)多區(qū)域測(cè)量功能.

    時(shí)間:2024-06-19型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:752
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  • SuperViewW1科研級(jí)三維白光干涉儀
    SuperViewW1科研級(jí)三維白光干涉儀

    中圖儀器SuperViewW科研級(jí)三維白光干涉儀基于白光干涉原理,用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

    時(shí)間:2024-06-20型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:710
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  • NS200探針式臺(tái)階儀/輪廓/形貌/粗糙度/表面2D測(cè)試
    NS200探針式臺(tái)階儀/輪廓/形貌/粗糙度/表面2D測(cè)試

    中圖儀器NS系列探針式臺(tái)階儀/輪廓/形貌/粗糙度/表面2D測(cè)試是一種接觸式表面形貌測(cè)量?jī)x器,可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。對(duì)測(cè)量工件的表面反光特性、材料種類(lèi)、材料硬度都沒(méi)有特別要求,樣品適應(yīng)面廣,數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性高、測(cè)量穩(wěn)定、便捷、高效,是微觀表面測(cè)量中使用非常廣泛的微納樣品測(cè)量手段。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):NS200訪問(wèn)量:624
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  • NS200國(guó)產(chǎn)臺(tái)階儀測(cè)量穩(wěn)定高效
    NS200國(guó)產(chǎn)臺(tái)階儀測(cè)量穩(wěn)定高效

    NS系列國(guó)產(chǎn)臺(tái)階儀測(cè)量穩(wěn)定高效,儀器采用了線性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC,具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級(jí)的分辨率,同時(shí),其集成了超低噪聲信號(hào)采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測(cè)量精度和測(cè)量重復(fù)性。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):NS200訪問(wèn)量:770
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  • VT6100共聚焦激光掃描顯微鏡品牌
    VT6100共聚焦激光掃描顯微鏡品牌

    中圖儀器VT6000共聚焦激光掃描顯微鏡品牌基于光學(xué)共軛共焦原理,結(jié)合精密縱向掃描,以在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3D真彩圖像,從而進(jìn)行分析的精密光學(xué)儀器,一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測(cè),可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。

    時(shí)間:2024-06-21型號(hào):VT6100訪問(wèn)量:812
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  • SuperViewW1光學(xué)平面度檢測(cè)設(shè)備
    SuperViewW1光學(xué)平面度檢測(cè)設(shè)備

    中圖儀器SuperViewW光學(xué)平面度檢測(cè)設(shè)備是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器??蓽y(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

    時(shí)間:2024-06-21型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:683
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  • SuperViewW1國(guó)產(chǎn)3D白光干涉儀
    SuperViewW1國(guó)產(chǎn)3D白光干涉儀

    中圖儀器SuperViewW國(guó)產(chǎn)3D白光干涉儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)300余種2D、3D參數(shù)作為評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。

    時(shí)間:2024-05-14型號(hào):SuperViewW1訪問(wèn)量:832
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  • NS200亞埃級(jí)垂直分辨力臺(tái)階儀
    NS200亞埃級(jí)垂直分辨力臺(tái)階儀

    中圖儀器NS系列亞埃級(jí)垂直分辨力臺(tái)階儀是一種接觸式表面形貌測(cè)量?jī)x器,可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。其采用LVDC電容傳感器,具有的亞埃級(jí)分辨率和超微測(cè)力等特點(diǎn)使得其在ITO導(dǎo)電薄膜厚度的測(cè)量上具有很強(qiáng)的優(yōu)勢(shì)。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):NS200訪問(wèn)量:634
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