VT6000國(guó)產(chǎn)共聚焦顯微鏡品牌主要測(cè)量表面物理形貌,進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面粗糙度等。擅長(zhǎng)微納級(jí)粗糙輪廓的檢測(cè),所展示的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)更清晰更微細(xì)??蓮V泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料制造、汽車(chē)零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等工業(yè)材料領(lǐng)域中。
VT6000激光共聚焦顯微鏡檢測(cè)設(shè)備的測(cè)量方式是非接觸式,不會(huì)破壞樣品的表面,不需要在真空環(huán)境下測(cè)量,也可以用顯微鏡測(cè)量的功能來(lái)觀測(cè)樣本,其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在測(cè)量漸變較大的高度時(shí),跟其他方法相比,可以更準(zhǔn)確量測(cè)物體高度,建立3D立體影像。
中圖儀器VT6000系列激光掃描共聚焦顯微鏡?在材料生產(chǎn)領(lǐng)域中,是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料制造、汽車(chē)零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。
SuperViewW1光學(xué)3D白光干涉儀?分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,可為樣品表面測(cè)量提供快速,便捷的非接觸式3D表面形貌測(cè)量解決方案。應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,操作簡(jiǎn)便,可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)??梢杂糜跍y(cè)試各類(lèi)表面。比如透明的玻璃表面,加上增透膜,其反射率小于1%;也可以用于測(cè)試直至100%反射率的各類(lèi)高反表面。
中圖儀器激光掃描共聚焦顯微鏡技術(shù)集成X、Y、Z三個(gè)方向位移調(diào)整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺(tái)平移、Z向聚焦等測(cè)量前工作。結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量。
SuperViewW1白光測(cè)量光學(xué)干涉儀用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車(chē)零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中,對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。可以測(cè)量可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
以共聚焦技術(shù)為原理的VT6000光學(xué)共聚焦掃描顯微鏡,是用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。儀器基于共聚焦顯微技術(shù),結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,可以對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量。
SuperViewW1白光干涉顯微輪廓儀設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺(tái)階高、角度等輪廓尺寸測(cè)量功能;以白光干涉技術(shù)為原理,可對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量。能對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。
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