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  • SuperViewW1白光形貌儀
    SuperViewW1白光形貌儀

    中圖儀器SuperViewW1白光形貌儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。針對完成樣品超光滑凹面弧形掃描所需同時滿足的高精度、大掃描范圍的需求,SuperView W的復(fù)合型EPSI重建算法,解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點。

    時間:2024-06-25型號:SuperViewW1訪問量:666
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  • SuperViewW1白光干涉儀廠家
    SuperViewW1白光干涉儀廠家

    中圖儀器白光干涉儀廠家SuperViewW1是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實現(xiàn)器件表面形貌3D測量的光學(xué)檢測儀器。

    時間:2024-06-26型號:SuperViewW1訪問量:754
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  • SuperViewW1白光干涉儀測三維形貌儀
    SuperViewW1白光干涉儀測三維形貌儀

    中圖儀器SperViewW1白光干涉儀測三維形貌儀主要用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外,具有的測量晶圓翹曲度功能,非常適合晶圓,太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量,應(yīng)變測量以及表面形貌測量。

    時間:2024-07-02型號:SuperViewW1訪問量:740
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  • SuperViewW1白光干涉儀光學(xué)輪廓儀
    SuperViewW1白光干涉儀光學(xué)輪廓儀

    中圖儀器SuperViewW1白光干涉儀光學(xué)輪廓儀具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點。它基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測。并且其特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。

    時間:2024-07-03型號:SuperViewW1訪問量:738
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  • SuperView W1白光干涉微觀形貌儀
    SuperView W1白光干涉微觀形貌儀

    SuperViewW1白光干涉微觀形貌儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸??蓮V泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。

    時間:2024-05-13型號:SuperView W1訪問量:729
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  • SuperView W13D形貌白光干涉儀
    SuperView W13D形貌白光干涉儀

    SuperViewW系列3D形貌白光干涉儀基于白光干涉原理,結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

    時間:2024-05-13型號:SuperView W1訪問量:783
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  • SuperViewW1白光干涉光學(xué)測厚儀
    SuperViewW1白光干涉光學(xué)測厚儀

    SuperViewW1白光干涉光學(xué)測厚儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等。

    時間:2024-05-13型號:SuperViewW1訪問量:747
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  • SuperViewW1白光干涉3D形貌測量儀
    SuperViewW1白光干涉3D形貌測量儀

    中圖儀器SuperViewW1白光干涉3D形貌測量儀集成X、Y、Z三個方向位移調(diào)整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。

    時間:2024-05-13型號:SuperViewW1訪問量:815
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