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  • WD4000系列半導(dǎo)體晶圓幾何形貌量測(cè)設(shè)備
    WD4000系列半導(dǎo)體晶圓幾何形貌量測(cè)設(shè)備

    WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何形貌量測(cè)設(shè)備通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。

    時(shí)間:2024-08-29型號(hào):WD4000系列訪問量:466
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  • WD4000系列半導(dǎo)體晶圓大翹曲wafer測(cè)量設(shè)備
    WD4000系列半導(dǎo)體晶圓大翹曲wafer測(cè)量設(shè)備

    WD4000系列半導(dǎo)體晶圓大翹曲wafer測(cè)量設(shè)備通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV、BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。

    時(shí)間:2024-08-19型號(hào):WD4000系列訪問量:464
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  • WD4000晶圓Wafer厚度測(cè)量系統(tǒng)
    WD4000晶圓Wafer厚度測(cè)量系統(tǒng)

    WD4000晶圓Wafer厚度測(cè)量系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚??蓪?shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質(zhì)晶圓的量測(cè)。

    時(shí)間:2024-08-09型號(hào):WD4000訪問量:573
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  • WD4000晶圓微觀形貌測(cè)量系統(tǒng)
    WD4000晶圓微觀形貌測(cè)量系統(tǒng)

    中圖儀器WD4000晶圓微觀形貌測(cè)量系統(tǒng)集成厚度測(cè)量模組和三維形貌、粗糙度測(cè)量模組,使用一臺(tái)機(jī)器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三維形貌的測(cè)量。

    時(shí)間:2024-08-06型號(hào):WD4000訪問量:610
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  • WD4000無(wú)圖晶圓膜厚檢測(cè)設(shè)備
    WD4000無(wú)圖晶圓膜厚檢測(cè)設(shè)備

    WD4000無(wú)圖晶圓膜厚檢測(cè)設(shè)備通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。

    時(shí)間:2024-07-18型號(hào):WD4000訪問量:616
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  • WD4000無(wú)圖晶圓表面形貌粗糙度2D3D檢測(cè)機(jī)
    WD4000無(wú)圖晶圓表面形貌粗糙度2D3D檢測(cè)機(jī)

    WD4000無(wú)圖晶圓表面形貌粗糙度2D3D檢測(cè)機(jī)通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。

    時(shí)間:2024-07-17型號(hào):WD4000訪問量:546
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  • WD4000半導(dǎo)體晶圓粗糙度表面形貌測(cè)量設(shè)備
    WD4000半導(dǎo)體晶圓粗糙度表面形貌測(cè)量設(shè)備

    WD4000半導(dǎo)體晶圓粗糙度表面形貌測(cè)量設(shè)備通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。

    時(shí)間:2024-07-23型號(hào):WD4000訪問量:684
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  • WD4000系列晶圓翹曲度表面形貌檢測(cè)設(shè)備
    WD4000系列晶圓翹曲度表面形貌檢測(cè)設(shè)備

    WD4000晶圓翹曲度表面形貌檢測(cè)設(shè)備通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建。它采用的高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖,能實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反應(yīng)表面形貌的參數(shù)。

    時(shí)間:2024-06-18型號(hào):WD4000系列訪問量:458
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